金子 晋久 | 産総研計測標準研究部門
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概要
関連著者
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金子 晋久
産総研計測標準研究部門
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金子 晋久
(独)産業技術総合研究所
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金子 晋久
産業技術総合研究所
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浦野 千春
産業技術総合研究所
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丸山 道隆
産業技術総合研究所
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丸山 道隆
(独)産業技術総合研究所
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大江 武彦
(独)産業技術総合研究所
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山田 隆宏
(独)産業技術総合研究所
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超電導工学研究所
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蔡 兆申
理研基幹研
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日高 睦夫
国際超電導産業技術研究センター
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前澤 正明
(独)産業技術総合研究所
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永沢 秀一
(財)国際超電導産業技術研究センター
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日野出 憲治
(財)国際超電導産業技術研究センター
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Pashkin Yuri
理研基幹研
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日高 睦夫
国際超電導産技研センター
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佐藤 哲朗
超電導工学研究所
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前澤 正明
産業技術総合研究所
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前澤 正明
電子技術総合研究所
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山森 弘毅
(独)産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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日高 睦夫
国際超電導産業技術研究セ
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佐藤 哲朗
(財)国際超電導産業技術研究センター
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永沢 秀一
Istec-srl
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日高 睦夫
(財)国際超電導産業技術研究センター
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日高 睦夫
国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
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永沢 秀一
国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
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丸山 道隆
産総所・計測標準研究部門
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陳 士芳
工研院・量測中心
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金子 晋久
産総所・計測標準研究部門
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日野出 憲治
超電導工学研究所
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日高 睦夫
(財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
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福山 康弘
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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福山 康弘
(独)産業技術総合研究所
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桐生 昭吾
東京都市大学
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大江 武彦
産総研計測標準研究部門
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浦野 千春
産総研計測標準研究部門
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蔡 兆申
理研基幹研:necグリーンイノベ研
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山森 弘毅
(独)産業技術総合研究所
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天谷 康孝
(独)産業技術総合研究所
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堀江 智弘
東京都市大学
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天谷 康孝
産総所・計測標準研究部門
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山森 弘毅
産総所・ナノエレクトロニクス研究部門
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福山 康
産総研計測標準研究部門
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鈴木 秀雄
超電導工学研究所
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竹中 康司
名大工
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小澤 篤
名大工
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金子 晋久
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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鈴木 秀雄
国際超電導産業技術研究センター
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及川 誠
国際超電導産業技術研究センター
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西井 健一郎
国際超電導産業技術研究センター
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石原 和政
国際超電導産業技術研究センター
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神代 暁
(独)産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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鈴木 秀雄
財)国際超電導産業技術研究センター
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山澤 一彰
産業技術総合研究所計量標準総合センター
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丹波 純
産業技術総合研究所計量標準総合センター
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山森 弘毅
産業技術総合研究所
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山田 隆宏
産業技術総合研究所
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石原 和政
国際超電導産業技術研究センター:東京電機大学
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山森 弘毅
産業技術総合研
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丸山 道隆
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門
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藤木 弘之
(独)産業技術総合研究所
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西井 健一郎
公財)国際超電導産業技術研究センター
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天谷 康孝
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門
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堂前 篤志
産業技術総合研究所 計量標準総合センター
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日高 睦夫
(公財)国際超電導産業技術研究センター
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日野出 憲治
(公財)国際超電導産業技術研究センター
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佐藤 哲朗
(公財)国際超電導産業技術研究センター
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永沢 秀一
(公財)国際超電導産業技術研究センター
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福山 康弘
産業技術総合研究所
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〓 瑞榮
工研院・量測中心
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浦野 千春
産総所・計測標準研究部門
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岩佐 章夫
産総所・計測標準研究部門
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藤木 弘之
産総所・計測標準研究部門
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堂前 篤志
産業技術総合研究所
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山澤 一彰
産業技術総合研究所
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山森 弘毅
産総研ナノエレクトロニクス研究部門
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丸山 道隆
産総研計測標準研究部門
-
堂前 篤志
産総研計測標準研究部門
-
山田 隆宏
産総研ナノエレクトロニクス研究部門
-
山澤 一彰
産総研計測標準研究部門
-
丹波 純
産総研計測標準研究部門
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丹波 純
産業技術総合研究所
-
中村 秀司
産業技術総合研究所:理研基幹研
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陳 士芳
台湾工業技術研究院
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Tsai Jaw-Shen
理化学研究所
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神代 暁
(独)産業技術総合研究所
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Pahkin Yuri
Department of Physics, Lancaster University
著作論文
- 超電導デバイスを用いた光信号モニタリングと標準交流電圧生成技術の開発(省エネルギーと超高速ネットワーク,省エネルギーと超高速ネットワーク,一般)
- フリップチップ接続による磁場結合方式に基づくSQUIDの評価(超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般)
- 25aWL-10 逆ペロフスカイト型マンガン窒化物の低抵抗温度係数(25aWL 遍歴・f電子系磁性,領域3(磁性,磁気共鳴))
- 集積型極低温電流比較器の提案(信号処理基盤技術及びその応用,一般)
- 光(マイクロ波)の周波数で電圧を決める (特集:計測標準と光技術)
- タイプII構造の集積型極低温電流比較器の設計(超伝導センシング基盤技術及びその応用,一般)
- 交流プログラマブル型ジョセフソン電圧標準の開発(超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般)
- CT-1-3 超伝導技術を基盤にした量子電気標準の現状と展望(CT-1.発見から50年!ジョセフソン効果のインパクト,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- 26pSA-17 電流標準実現に向けた測定系の開発と素子作製(26pSA 領域4 ポスターセッション,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 20pPSA-3 単電子ポンプによる電流標準(20pPSA 領域4 ポスターセッション,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 集積型極低温電流比較器の改良(超伝導エレクトロニクス基盤技術,一般)
- 26pXQ-8 超伝導リードと常伝導アイランドを持つターンスタイル素子による定電流生成(26pXQ 量子細線・微小接合,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 量子電圧雑音源を用いたボルツマン定数決定(超伝導センシング基盤技術及びその応用,一般)
- C-8-4 Evaluation of Uncertainty in AC Voltage Measurement Using AC-Programmable Josephson Voltage Standard
- C-8-5 プログラマブルジョセブソン電圧標準を用いたツェナー校正システムの開発(C-8.磁気記録・情報ストレージ,一般セッション)
- C-8-3 交流プログラマブルジョセブソン電圧標準システムにおける実効値出力10V化への取り組み(C-8.磁気記録・情報ストレージ,一般セッション)
- 25aDD-3 超伝導リードと常伝導アイランドを持つターンスタイル素子による定電流生成II(量子細線・微小接合,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- C-8-14 M系列符号に基づく量子電圧雑音源の評価(C-8.超伝導エレクトロニクス)
- 交流プログラマブルジョセフソン電圧標準による10Vrms波形生成と低周波サンプリング測定システムの開発(薄膜,デバイス技術及びその応用,一般)
- SINISターンスタイル素子を用いた単電子ポンプ : 量子電流標準実現に向けて(薄膜,デバイス技術及びその応用,一般)