劉 紫園 | NECエレクトロニクス評価技術開発事業部

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概要

• 同名の論文著者
• NECエレクトロニクス評価技術開発事業部の論文著者

関連著者

• 藤枝 信次

  日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所

• 藤枝 信次

  「応用物理」編集委員会

• 藤枝 信次

  Ecシリコノシステム研究所

• 藤枝 信次

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 藤枝 信次

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 劉 紫園

  NECエレクトロニクス評価技術開発事業部

• 劉 紫園

  Necエレクトロニクス

• 藤枝 信次

  NECシリコンシステム研究所

• 寺島 浩一

  NECシリコンシステム研究所

• 福谷 克之

  東京大学生産技術研究所

• WILDE Marukus

  東京大学生産技術研究所

• Wilde Markus

  東京大学生産技術研究所

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著作論文

• 2.2 SiO_2/Si中水素のLSI長期信頼性への影響(セッション2「故障解析・デバイス(1)」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
• 2-2 SiO_2/Si 中水素の LSI 長期信頼性への影響
• 共鳴核反応法で見るSiO_2/Si界面近傍の水素の挙動

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