田中 幹大 | Nec評価技術開発本部
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概要
関連著者
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田中 幹大
Nec評価技術開発本部
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杉本 正明
NEC評価技術開発本部
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田中 幹大
Necデバイス分析評価技術センター
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杉本 正明
NECデバイス評価技術研究所
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田中 幹大
NEC デバイス評価技術研究所
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浜田 健彦
NEC ULSIデバイス開発研究所
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根本 啓次
NEC情報メディア研究所
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丸家 誠
Nec ヒューマンメディア研究所
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丸家 誠
Nec情報メディア研究所
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丸家 誠
Necヒューマンメディア研究所
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田中 幹大
Nec 情報メディア研究所
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田中 幹大
NEC 評価技術開発本部
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杉本 正明
NEC 評価技術開発本部
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杉本 正明
NEC デバイス評価技術研究所
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根本 啓次
Necヒューマンメディア研究所
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丸家 誠
情報メディア研究所
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根本 啓次
NEC C&C情報研究所
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根本 啓次
Nec
著作論文
- A-3-24 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- A-3-3 ウェーブレット変換を用いたメモリLSI不良解析
- A-3-2 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- C-12-40 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- C-12-39 自己相関係数を用いたメモリLSI不良解析
- C-12-41 規則性不良混合率関数を用いたメモリLSI不良解析
- C-12-40 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- アルゴリズム選択によるメモリLSI不良解析の最適化
- C-12-8 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術(2) : データ量増大に対応した解析手法および実用化への対策
- C-12-7 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術(1) : 不規則性/規則性不良分布の自動認識アルゴリズム
- C-12-2 領域分割を用いたメモリLSI不良解析
- 分散型LSI不良解析システム
- 3)VRを利用したスキートレーニングシステムの実現(〔画像処理・コンピュータビジョン研究会 画像応用研究会〕 合同)
- 平均法線を利用したポリゴンメッシュ接続法