杉本 正明 | NEC評価技術開発本部
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概要
関連著者
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杉本 正明
NEC評価技術開発本部
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田中 幹大
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Necデバイス分析評価技術センター
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NECデバイス評価技術研究所
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NEC ULSIデバイス開発研究所
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NEC デバイス評価技術研究所
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杉本 正明
NEC デバイス評価技術研究所
著作論文
- A-3-24 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- A-3-3 ウェーブレット変換を用いたメモリLSI不良解析
- A-3-2 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- C-12-40 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- C-12-39 自己相関係数を用いたメモリLSI不良解析
- C-12-41 規則性不良混合率関数を用いたメモリLSI不良解析
- C-12-40 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術 : 不規則性/規則性不良分布の特徴解析
- アルゴリズム選択によるメモリLSI不良解析の最適化
- C-12-8 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術(2) : データ量増大に対応した解析手法および実用化への対策
- C-12-7 LSI歩留まり低下の前駆現象検出技術(1) : 不規則性/規則性不良分布の自動認識アルゴリズム
- C-12-2 領域分割を用いたメモリLSI不良解析
- 分散型LSI不良解析システム
- メモリLSIの不良解析高速処理システム--メモリ不良解析統合システム (LSIの評価・解析技術特集) -- (メモリLSIの故障・不良解析技術)
- メモリLSIの自動故障原因特定法(MEMOFANEX) (LSIの評価・解析技術特集) -- (メモリLSIの故障・不良解析技術)