古川 靖夫 | 株式会社アドバンテスト

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概要

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• 同名の論文著者
• 株式会社アドバンテストの論文著者

関連著者

• 古川 靖夫

  株式会社アドバンテスト

• 山崎 眞

  株式会社アドバンテスト

• 浅田 邦博

  東京大学大規模集積システム設計教育研究センター

• 浅田 邦博

  東京大学 大学院 工学系研究科

• 浅田 邦博

  東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻

• 浅田 邦博

  東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(vdec):東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻

• 小松 聡

  東京大学大規模集積システム設計教育研究センター

• ABBAS Mohamed

  東京大学大規模集積システム設計教育研究センター

• 浅田 邦博

  株式会社アドバンテスト

• 小松 聡

  東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター

著作論文

• ディジタルアシストアナログ回路向けの自動テスト生成フレームワーク(システム設計と高位・論理設計,物理設計及び一般)
• 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 : Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 : Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)

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