山崎 眞 | 株式会社アドバンテスト

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概要

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• 株式会社アドバンテストの論文著者

関連著者

• 山崎 眞

  株式会社アドバンテスト

• 古川 靖夫

  株式会社アドバンテスト

著作論文

• 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 : Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 : Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• SC-9-2 半導体メモリの不具合事例

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