大井 健史 | 三菱電機株式会社

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概要

• 同名の論文著者
• 三菱電機株式会社の論文著者

関連著者

• 大井 健史

  三菱電機

• 大井 健史

  三菱電機株式会社

• 大井 健史

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 赤木 泰文

  東京工業大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻

• 小山 健一

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 藤田 英明

  東京工業大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻

• 冨永 真志

  東京工業大学

• 漆畑 廣明

  東京工業大学

• 木ノ内 伸一

  三菱電機

• 藤田 英明

  東京工業大学

• 中山 靖

  三菱電機株式会社

• 笹尾 博之

  三菱電機株式会社

• 小山 健一

  三菱電機株式会社

• 赤木 泰文

  東京工業大学

• 笹尾 博之

  三菱電機

• 奥田 達也

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 菊永 敏之

  (株)エムテック関西事業部

• 菊永 敏之

  (株)エムテック 関西事業部

• 中山 靖

  三菱電機

• 藤田 英明

  東京工業大学大学院理工学研究科 電気電子工学専攻

• 浦壁 隆浩

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 酒井 拓也

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 堀口 剛司

  三菱電機

• 遠山 喬

  東京工業大学 工学部

• 大須賀 弘行

  三菱電機(株)鎌倉製作所

• 遠山 喬

  東京工業大学

• 武藤 浩隆

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 菊永 敏之

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 松本 秀雄

  三菱電機(株)

• 杉本 貴之

  東京工業大学

• 大須賀 弘行

  三菱電機(株)

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著作論文

• 静特性と動特性の統合評価に基づくパラメータ抽出手法 : pin ダイオードモデルへの応用
• 2次元LIF法による真空アーク計測
• レーザ誘起蛍光法を用いた真空アーク中における銅蒸気の2次元計測
• 配線構造に起因する多並列MOSFETのスイッチング損失均等化
• 衛星搭載用DC/DCコンバータにおける寄生パラメータ抽出法を用いた電磁ノイズ解析(制御技術関連)
• パワーモジュール内部の配線形状に起因する分流アンバランスの解析と実験的検証
• パワーモジュール高信頼性設計のための解析・シミュレーション技術 (特集「新たな飛躍段階を迎えたパワーデバイス」)
• パワーモジュールの分布定数抽出と動特性解析 (特集「パワーデバイス技術の最前線」)
• デバイスモデルを用いた並列接続 pin ダイオードの動作特性 : キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析

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