デバイスモデルを用いた並列接続 pin ダイオードの動作特性 : キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析
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概要
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- 2011-01-21
著者
-
赤木 泰文
東京工業大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
-
藤田 英明
東京工業大学 大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
-
堀口 剛司
三菱電機
-
冨永 真志
東京工業大学
-
漆畑 廣明
東京工業大学
-
木ノ内 伸一
三菱電機
-
大井 健史
三菱電機
-
藤田 英明
東京工業大学
-
大井 健史
三菱電機株式会社
-
赤木 泰文
東京工業大学
-
大井 健史
三菱電機(株)先端技術総合研究所
-
杉本 貴之
東京工業大学
-
藤田 英明
東京工業大学大学院理工学研究科 電気電子工学専攻
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