佐々木 宏和 | 財団法人ファインセラミックスセンター
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概要
関連著者
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佐々木 宏和
財団法人ファインセラミックスセンター
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
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平山 司
ファインセラミックスセンター
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
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加藤 丈晴
ファインセラミックスセンター
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンター材料技術研究所研究第一部
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佐々木 宏和
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所
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加藤 丈晴
JFCC
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山本 和生
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
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鹿島 直二
中部電力(株)技術開発本部 電力技術研究所
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和泉 輝郎
(財)国際超電導産業技術研究センター 超電導工学研究所
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塩原 融
(財)国際超電導産業技術研究センター 超電導工学研究所
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長屋 重夫
中部電力(株)技術開発本部 電力技術研究所
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塩原 融
(財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 線材研究開発部
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平山 司
財団法人ファインセラミックスセンター
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松田 潤子
超電導工学研究所
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柴田 潤子
Srl
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山本 和生
財団法人ファインセラミックスセンター
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佐々木 優吉
(財)ファインセラミックスセンター 材料技術研究所
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松田 潤子
(財)国際超電導産業技術研究センター 超電導工学研究所
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佐々木 優吉
財団法人ファインセラミックセンター ナノ構造研究所
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佐々木 優吉
Research And Development Lab. Japan Fine Ceramics Center
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佐々木 優吉
(財)ファイソセラミックスセンター
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佐々木 宏和
古河電工(株)横浜研究所
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松田 竹善
古河電工(株)横浜研究所
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平山 司
古河電工(株)横浜研究所
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塩原 融
(財)国際超電導産業技術研究センター
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和泉 輝郎
(財)国際超電導産業技術研究センター
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長屋 重夫
中部電力(株) 電力技術研究所
著作論文
- 電子線ホログラフィーによるIII-V系半導体のドーパント分布測定
- 電子線ホログラフィーの原理と磁性材料・半導体デバイス解析への応用 (特集 最先端の電子顕微鏡技術と応用展開)
- 集束イオンビームによる試料作製とビームダメージ層除去
- 分析のためのFIB試料作製 (試料作製の新展開)
- FIB-マイクロサンプリングとArイオンミリングを併用した高分解能観察試料作製技術の開発
- MO観察で特定したYBCO線材欠陥部位のSIM及びTEMによる微細構造観察
- FIBを用いた微細構造解析用試料調製技術
- FIBを用いたTEM試料作製技術
- 化合物半導体表面に形成されるダメージ層の電子線ホログラフィ観察に与える影響 (第38回表面分析研究会講演資料)