御福 英史 | 三菱電機株式会社材料デバイス研究所
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概要
関連著者
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御福 英史
三菱電機株式会社材料デバイス研究所
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三菱電機株式会社材料デバイス研究所
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(株)アドバンスト・ディスプレイ
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三菱電機材料デバイス研究所
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三菱電気(株)材料デバイス研究所
著作論文
- a-Si TFTの容量特性評価
- 6)駆動状態におけるα-Si TFTの時間領域容量特性の評価(情報ディスプレイ研究会)
- 駆動状態におけるa-Si TFTの時間領域容量特性の評価
- 7)COG技術を小型高精細TFT-LCDに適用するための線路設計(情報ディスプレイ研究会)
- 227 レーザ表面改質による厚膜抵抗体のトリミング技術の開発
- AMLCDに適用する回路網解析の課題と新しい評価手法