AMLCDに適用する回路網解析の課題と新しい評価手法
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概要
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AMLCDの各画素に形成するTFTの数は,高精細化に伴い,SVGA用途ではおよそ1.5M個,EWS用途ではおよそ4.0M個となる.これら全画素の動作を一括して計算し,画質を予測することは膨大な計算時間のために実用上難しいが,LCDの設計技術構築のためには回避困難な課題である.ソルバー自体の他,適切な動作モデルやこれらを検証,修正するための評価手法の開発を必要とする.本報告では,TFTのゲート,ソース間容量と1画素単位の電気光学応答を評価する新しい手法を概説し,LCD用の回路網解析ツール開発の課題などについて述べる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-09-05
著者
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御福 英史
三菱電機株式会社材料デバイス研究所
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大内田 裕史
三菱電機株式会社材料デバイス研究所
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大内田 裕史
アドバンスト・ディスプレイ
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御福 英史
アドバンスト・ディスプレイ
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安達 光平
アドバンスト・ディスプレイ
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長尾 繁雄
三菱電機材料デバイス研究所
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長尾 繁雄
三菱電気(株)材料デバイス研究所
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