佐々木 道夫 | 株式会社東芝研究開発センターULSI研究所

スポンサーリンク

概要

• 佐々木 道夫の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 株式会社東芝研究開発センターULSI研究所の論文著者

株式会社東芝研究開発センターULSI研究所 | 論文

• SGTトランジスタを用いたギガビットDRAMの設計
• SOI集積回路に対する基板浮遊効果の影響
• C-11-2 TIS を用いたバッファ回路の設計法とその DRAM への適用検討
• 周辺回路の歩留りを考慮したギガビットDRAMの最適冗長回路設計法
• 高密度・低電圧NAND EEPROM設計のためのビット線シールド技術

もっと見る

スポンサーリンク