成田 尚司 | 広大理
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概要
関連著者
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Research Institute Of Electrical Communication Tohoku University
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広大理
著作論文
- 24aXB-2 低温走査トンネル顕微鏡を用いたNi(111)の表面電子状態の研究(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 20aPS-6 低温STMを用いたNi(111)表面電子状態の研究(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)