芦澤 芳夫 | (株)富士通研究所

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概要

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関連著者

• 岡 秀樹

  株式会社富士通研究所

• 岡 秀樹

  (株)富士通研究所

• 芦澤 芳夫

  株式会社富士通研究所

• 芦澤 芳夫

  (株)富士通研究所

著作論文

• ゲート界面のポテンシャルのゆらぎに起因するトランジスタ特性のばらつき解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• ゲート界面のポテンシャルのゆらぎに起因するトランジスタ特性のばらつき解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

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