小松 洋佑 | 弘前大院
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概要
弘前大院 | 論文
- 440 試験片形状の異なるエレクトロマイグレーション・ナノストラクチャー創製の数値シミュレーション(T08-1 金属ナノ材料の創製と展開(1) 金属ナノ材料の創製,大会テーマセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- 1930 電子デバイス銅配線におけるエレクトロマイグレーションの支配的拡散経路に関する研究(J16-4 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価(4),J16 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
- T0401-1-1 試験片の損傷を考慮したエレクトロマイグレーションによる金属ナノストラクチャー創製の数値シミュレーション(金属ナノ材料の創製と展開(1))
- 106 多結晶Al配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の実験的評価(学生賞I,環境工学/学生賞I)
- 439 エレクトロマイグレーションを用いたナノストラクチャー創製の数値シミュレーション手法の開発(T08-1 金属ナノ材料の創製と展開(1) 金属ナノ材料の創製,大会テーマセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)