牧之内 科子 | (財)材料科学技術振興財団
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概要
(財)材料科学技術振興財団 | 論文
- 表面分析講座-14-2次イオン質量分析法(SIMS)
- 投影型二次イオン質量分析装置を用いた微小領域測定における制限視野法の効果(表面・界面・薄膜と分析化学)
- 二次イオン質量分析法による窒化アルミニウム焼結体の酸素二次イオン像の観察(表面・界面・薄膜と分析化学)
- 29p-BPS-55 MEIS、AES、RHEEDによるCu/Si(111)の成長過程II
- 24a-PS-38 MEIS、AES、RHEEDによるCu/Si(111)の成長過程