野々山 聡 | 九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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概要
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST | 論文
- スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)