森垣 和夫 | ソニー研
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概要
関連著者
著作論文
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- CdSeのESR : イオン結晶光物性 : ESR,螢光体
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- CdSのPhotosensitive E. S. R. : イオン結晶光物性 : ESR,螢光体
- II-VI化合物の photosensitive ESR
- 10a-L-8 CdSのphotosensitive ESR II
- 歪をかけた半導体のESR : 半導体における歪効果シンポジウム
- CdSのphotosensitive ESR : 光物性
- CdSのshallow trapとdeep trapのESR(光物性)
- Geのg-shiftとeffective massのストレス効果(半導体(スピンレゾナンス))
- n-Geの不純物伝導領域におけるESR(半導体(マイクロ波))
- 7p-A-13 ストレスをかけた場合のGeのESR-Sbの場合
- 7p-A-12 ストレスをかけた場合のGeのESR-Pの場合
- 半導体における格子欠陥のESRによる研究
- 鉄族イオンESRへのストレス効果 : 磁気共鳴
- CdS内不純物のESR : 光物性
- Stressをかけた場合のGeのESR II P, Asの場合 : 半導体
- Stressをかけた場合のGeのESR-I (Sbの場合) : 半導体
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- 12a-M-8 Cd^のヤーン・テラー効果とESR