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森垣 和夫 | ソニー研究所
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森垣 和夫
ソニー研究所
森垣 和夫
ソニー研
満間 猛
ソニー研究所
豊富 誠三
ソニー研究所
豊富 誠三
物性研
著作論文
歪をかけた半導体のESR : 半導体における歪効果シンポジウム
n-Geの不純物伝導領域におけるESR(半導体(マイクロ波))
7p-A-13 ストレスをかけた場合のGeのESR-Sbの場合
半導体における格子欠陥のESRによる研究
Stressをかけた場合のGeのESR-I (Sbの場合) : 半導体
CdSの不純物伝導(半導体(マイクロ波))
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