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兵庫県立大学工学研究科イオン光学研究室 | 論文
- First-principles calculation and proton transfer in TiO2-modified porous glass
- 塩素クラスターによる高速加工
- Summary of industry-academia collaboration projects on cluster ion beam process technology
- Study of gas clustcr ion beam planarization for discrete track magnetic disks
- 45nm以降のデバイス向けクラスターイオン注入装置:CLARIS
- Arクラスターイオンビームを用いた有機薄膜のSIMS深さ方向分析
- TIARAにおけるMeVエネルギークラスターイオン加速とその応用の現状
- Modification and smoothing of patterned surface by gas cluster ion beam irradiation
- 修士論文 ガスクラスターイオンビームによるパターン化記録媒体の平坦化に関する研究
- X-ray photelectron spectroscopy study of diamond-like carbon thin films formed by Ar gas cluster ion beam-assisted fullerene deposition
- Photoelectron spectroscopy study of the valence band region in diamond-like carbon thin films
- クラスターSIMSによるタンパク質分子イオンの検出
- Enhanced surface sensitivity in secondary ion mass spectrometric analysis of organic thin films using size-selected Ar gas-cluster ion projectiles
- ガスクラスターイオンビームを用いた表面分析用低損傷スパッタ銃
- Planarization of amorphous carbon films on patterned substrates using gas cluster ion beams
- Planarization of bit-patterned surface using gas cluster ion beams
- ミストCVD法による酸化薄膜の成膜
- クラスターイオンと固体表面との相互作用--表面衝突現象、照射効果
- Surface roughness reduction using gas cluster ion beams for Si photonics
- 特集 ガスクラスターイオンビームを利用した微細加工 ガスクラスターイオンビーム(GCIB)を利用した高精度ナノ加工