MOVPE法によるSi基板上のCdTe厚膜層を用いた放射線画像検出アレイの開発 (シリコン材料・デバイス)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 2011-05-19

著者

• 犬塚 博章

  名古屋工業大学大学院機能工学専攻

• 舘 忠裕

  名古屋工業大学大学院機能工学専攻

• 藤村 直也

  名古屋工業大学大学院機能工学専攻

関連論文

• MOVPE法による大面積CdTeX線・γ線画像検出器に関する研究--Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討 (シリコン材料・デバイス)
• MOVPE法による大面積CdTeX線・γ線画像検出器に関する研究--Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討 (電子部品・材料)
• MOVPE法による大面積CdTeX線・γ線画像検出器に関する研究--Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討 (電子デバイス)
• MOVPE法による大面積CdTeX線・γ線画像検出器に関する研究 : Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• MOVPE法による大面積CdTeX線・γ線画像検出器に関する研究 : Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• MOVPE法による大面積CdTeX線・γ線画像検出器に関する研究 : Si基板上の厚膜CdTe層高品質化の検討(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• MOVPE法によるSi基板上のCdTe厚膜層を用いた放射線画像検出アレイの開発 (シリコン材料・デバイス)
• MOVPE法によるSi基板上のCdTe厚膜層を用いた放射線画像検出アレイの開発 (電子部品・材料)
• MOVPE法によるSi基板上のCdTe厚膜層を用いた放射線画像検出アレイの開発 (電子デバイス)
• MOVPE法によるSi基板上のCdTe厚膜層を用いた放射線画像検出アレイの開発(センサ,撮像,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• MOVPE法によるSi基板上のCdTe厚膜層を用いた放射線画像検出アレイの開発(センサ,撮像,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• MOVPE法によるSi基板上のCdTe厚膜層を用いた放射線画像検出アレイの開発(センサ,撮像,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク