高温に於けるアルミナの絶縁破壞

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 東芝技術企画室の論文

著者

• 岡田 純一

  東芝マツダ研

関連論文

• 11a-A-7 Si中のTrap III
• Si中のTrap II : 半導体
• 4p-L-7 Si中のTrap
• キャリャー寿命に対する外光の影響 : XX. 半導体
• 16F-14 光パルスによる半導体の研究
• 半導体の転位の研究
• 18K-8 Ge小角度結晶境界の電子現象 : 主として理論
• 19G-16 Ge結晶の粒界及び表面での再結合
• Carrier lifetimeの温度依存性 : 半導体(実験)
• Geのcarrier lifetimeの測定 : 半導体(実験)
• 金屬間化合物半導体
• 12. 高温に於けるアランダムの電氣絶縁性に就いて
• Pb S光導電セルによる音響再生
• PbS光導電セルの諸性質
• 高温に於けるアルミナの絶縁破壞
• 半導体実験

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク