施設紹介 電子線分析室の装置と電子線マイクロアナライザ(EPMA)による観測

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概要

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著者

• 根岸 利一郎

  埼玉工業大学

関連論文

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• フィボナッチ・スパイラルの画像処理技術への応用
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• X-ray Interference Fringe in Bragg-(Bragg)^m-Laue Case from Thin Finite Crystal
• 施設紹介 電子線分析室の装置と電子線マイクロアナライザ(EPMA)による観測
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• 20aTH-10 共鳴動力学回折によるGe K吸収端における異常散乱因子の決定
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• 26aTN-3 2ビーム入力多重ブラッグ-ラウエ型干渉縞とそれによる再画像(26aTN X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 26aTN-2 蜃気楼干渉縞による歪勾配の決定(26aTN X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 23aJA-10 歪勾配とX線蚕気楼干渉縞(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 23aJA-9 ブラッグケースにおける歪んだ平板結晶の透過ビームに見られる干渉縞(23aJA X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 画素分散化表示による視認性の改善
• 22pPSB-11 偏差を利用した形の乱雑さの評価(22pPSB 領域11ポスターセッション,領域11(統計力学,物性基礎論,応用数学,力学,流体物理))
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• 任意点数による擬似一様充填とその応用
• 対象画像に応じた画素分散
• 表示位置分散化と視認性
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• 8pSL-7 位相変化法によるGe K吸収端における異常散乱因子の決定((X線)X線・粒子線,領域10)
• 27aWG-5 X線共鳴散乱による欠陥コントラスト像の変化III(27aWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))

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