28aYK-7 歪んだSi薄片の側面回折における干渉縞の観測(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2009-08-18

著者

• 川村 隆明

  山梨大学

• 根岸 利一郎

  埼玉工業大学

• 深町 共栄

  埼玉工業大学

• 根岸 利一郎

  埼玉工大

• 吉沢 正美

  埼玉工大

• 深町 共榮

  埼玉工大

• 平野 健二

  埼玉工大

• 金松 喜信

  埼玉工大

• 遠山 将彦

  埼玉工大

• 深町 共榮

  埼玉工業大学工学部

• 平野 馨一

  KFK-PF

• 平野 健二

  埼玉工大工

• 深町 共栄

  埼玉工大 先端科研

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