26aTN-3 2ビーム入力多重ブラッグ-ラウエ型干渉縞とそれによる再画像(26aTN X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2011-03-03

著者

• 川村 隆明

  山梨大学

• 平野 馨一

  KEK-PF

• 根岸 利一郎

  埼玉工業大学

• 深町 共栄

  埼玉工業大学

• 根岸 利一郎

  埼玉工大

• 深町 共榮

  埼玉工大

• 平野 健二

  埼玉工大

• 金松 喜信

  埼玉工大

• Jongsukswat Sukswat

  埼玉工大

• 深町 共榮

  埼玉工業大学工学部

• 根岸 利一朗

  埼玉工大

• 平野 馨一

  KEK物構研

• Sukswat Jongsukswat

  埼玉工大

• 深町 共栄

  埼玉工大 先端科研

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