陽電子誘起イオン脱離検出器の開発 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成12年度)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 京都大学原子炉実験所の論文
- 2000-11-01
著者
関連論文
- 29pXJ-14 陽電子誘起イオン脱離測定装置の評価
- 18aTH-2 陽電子誘起脱離イオン測定装置の開発
- 27pXC-10 陽電子を用いたNi表面からのイオン脱離
- 25aYK-3 陽電子誘起イオン脱離検出器の開発
- 22pZL-7 陽電子誘起イオン脱離を用いたNi表面の研究
- 24aYA-5 陽電子誘起イオン脱離によるNi表面の評価
- 28a-XJ-9 低速陽電子によるNi表面からの陽電子誘起イオン脱離
- 18aTH-3 水素雰囲気下において作成した金属薄膜の低速陽電子ビームによる測定と評価
- 陽電子誘起イオン脱離検出器の開発 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成12年度)
- 25pY-11 低速陽電子ビームを用いた金属多層膜の空孔型欠陥の評価
- 25aYL-4 金属薄膜の低速陽電子ビームを用いた欠陥評価
- 28a-XJ-10 低速陽電子ビーム法による金属薄膜の欠陥評価
- 26a-K-7 低速陽電子ビームを用いたイメージングプレートによる陽電子の検出とその特性
- 29pYC-5 水素雰囲気中において作成したFe単層膜の低速陽電子ビームによる評価
- 23pYH-11 水素雰囲気下におけるFe単層膜の作成と低速陽電子ビームによる測定
- 25pXR-1 陽電子脱離イオン検出部の装置開発(25pXR X線・粒子線(陽電子消滅・コンプトン散乱),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))
- 24pXR-9 低速陽電子ビームを用いた水素雰囲気下で作成した金属薄膜の欠陥評価(24pXR 格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))