電位像を用いた故障箇所絞り込み--メモリLSIの故障絞り込み手法(MEMOFAN)の開発 (LSIの故障解析技術<特集>--故障箇所の絞り込みと特定化技術)

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概要

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• 日本電気の論文

著者

• 浜田 弘幸

  日本電気株式会社材料部品分析評価センター

• 菱井 利祐

  日本電気材料部品分析評価センター信頼性評価部

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