in-situ光電子分光法による界面形成過程,及び極薄膜の電子構造の評価 (超格子素子基礎技術<特集>) -- (極薄膜ヘテロ界面の構造と特性評価)

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概要

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• 電子技術総合研究所の論文

著者

• 奥村 元

  電総研

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