エレクトロンプロープマイクロアナライザーによる炭素定量分析法
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概要
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The optimum conditions for determining carbon contents in various carbides were investigated by using an electron probe microanalyzer. Though the profiles of Cr K<SUB>α</SUB> and Ni L<SUB>α</SUB> lines overlapped partly with C K<SUB>α</SUB>, the interferences could be eliminated by the use of a pulse height analyzer. The chemical shifts of C K<SUB>α</SUB> lines were measured for several carbides. The accelerating voltages which give the maximum X-ray intensities of C K<SUB>α</SUB> lines were 15, 10, 9.5, 9, 5.2, 2.7 and 2.5 for graphite, diamond, TiC, VC, Cr<SUB>3</SUB>C<SUB>2</SUB>, Mo<SUB>2</SUB>C, TaC, and WC, respectively. The X-ray intensities of these carbides were almost proportional to the carbon contents. The absorption corrections for SiC and B<SUB>4</SUB>C were calculated by Philibert's and modified Philibert's equations. The applicability of those equations was discussed.
- 社団法人 日本分析化学会の論文
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