試料準備から測定まで
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概要
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Techniques to prepare the sample and strategies to measure powder X-ray diffraction data for ab initio crystal structure analysis of organic and organometallic compound are shown together with an introduction to typical optics of powder X-ray diffractometry.
著者
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藤井 孝太郎
東京工業大学大学院理工学研究科物質科学専攻
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植草 秀裕
東京工業大学大学院理工学研究科物質科学専攻
-
植草 秀裕
東京工業大学大学院理工学研究科
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藤井 孝太郎
東京工業大学大学院理工学研究科大学院
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