遠赤外線領域の光学材料評価技術の開発 : SmHX薄膜(2.2<x<2.6)における誘電関数評価への応用
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概要
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We have carried out the dielectric function analysis of SmHx(x=2.28, 2.42, 2.56, 2.57) films based on the room-temperature reflectance spectra for photon energies ranging form 0.05 to 6.5 eV. The analysis has been performed by using i) the model dielectric functions and ii) Kramers-Kronig analysis to obtain the real and imaginary parts of the dielectric constants in SmHx. The both approaches demonstrate that the interband transition energy shows a red shift of about 1 eV when H/Sm ratio is increased from 2.28 to 2.57, though the lattice constant remains almost unchanged.
- 埼玉大学総合研究機構地域共同研究センター産学連携推進部門の論文
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