超伝導ストリップイオン検出器による巨大分子の高感度質量分析(超伝導センシング基盤技術及びその応用,一般)
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概要
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従来,飛行時間型質量分析計(Time-Of-Flight Mass Spectrometer; TOF MS)の分子検出部にはマイクロチャンネルプレート(Microchannel Plate; MCP)が用いられてきたが,分子の質量が大きくなるにつれて検出感度が劣化するという問題点があった.超伝導検出器は,巨大分子の衝突に対しても100%の検出効率を示すことから,近年いくつかの種類の超伝導検出器が開発されている.中でも,厚さ数十nm,線幅数百nmの超伝導ストリップ線から成る超伝導ストリップイオン検出器(Superconducting Strip Ion Detector; SSID)は,最先端のMCPと同程度のナノ秒高速応答性を示し,分子量非依存の検出感度をTOF MSに付与できることから,次世代の分子検出器として期待されている.本研究では,まずSSIDの検出原理を述べ、大面積と高速応答性を両立した並列型SSIDの検出器特性を紹介する.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-09-25
著者
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志岐 成友
産業技術総合研究所
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浮辺 雅宏
産業技術総合研究所
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大久保 雅隆
独立行政法人 産業技術総合研究所 極微プロファイル計測研究ラボ
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浮辺 雅宏
独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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小池 正記
独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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志岐 成友
独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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全 伸幸
独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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藤井 剛
独立行政法人産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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志岐 成友
独立行政法人産業技術総合研究所つくばイノベーションアリーナ推進本部/計測フロンティア研究部門
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浮辺 雅宏
独立行政法人産業技術総合研究所つくばイノベーションアリーナ推進本部/計測フロンティア研究部門
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