電波吸収体の複素電磁パラメータのin-situ測定に関する一検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)
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概要
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フランジ付き開放端同軸プローブに基づいた測定手法は,電波吸収体の材料常数の非破壊測定方法の1つとして注目を浴びている.2つの複素材料定数(複素誘電率と複素透磁率)を同時に決定するため,少なくとも2つの異なる測定条件に基づいた複素反射係数が必要である.本稿では,開放端同軸プローブに基いた電波吸収体の複素電磁パラメータを同時に検出するためのin-situ測定法について検討し,従来の「膜厚変化法」を利用する際に,被測定材料において,二つ以上の異なる厚さが必須であるという制限を無くすために,寸法が異なる二つの開放端同軸プローブを用いることにより,二つの複素反射係数を獲得する「プローブ変化法」を提案し,検討した.先ず,スペクトル領域法に基づいて,複素電磁パラメータと反射係数の関係式を導出した.次に,自働測定システムの構成を示した.最後に,電磁界シミュレーションと測定による反射係数を組み合わせることにより,磁性電波吸収体の複素材料定数を測定した.実験結果と参考値は一致していることにより,提案した測定法の有効性及び妥当性が確かめられた.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-10-17
著者
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