27pWG-10 イオン照射した薄膜の中性子反射率測定による構造評価の検討(27pWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2002-03-01

著者

• 相澤 一也

  J-PARCセンター

• 曽山 和彦

  原研

• 岩瀬 彰宏

  原研

• 相澤 一也

  原研

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