並列線形光サンプリング法を用いた低雑音レーザの位相雑音解析
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概要
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デジタルコヒーレントレシーバを用いて、2台のレーザのビート信号を側定し、それを解析することで、レーザの位相雑音を測定する技術が提案されているが、その側定帯域はバランスフォトダイオードやA/Dポートなとのエレクトロニクスによって制限される。よって、2台のレーザの中心周波数差をエレクトロニクスの帯域以下に調整する必要がある。そこで、上記中心周波数調整を緩和する手法として、線形光サンプリング法の広帯域性を活用した並列線形光サンプリング法を提案している。本稿では、レーザの位相雑音解析結果に本測定法の雑音が与える影響を調べるために、本測定法の雑音を解析した。そして、本側定法の雑音はショット雑音由来であることを明らかにした。また本側定法を用いて、低雑音のレーザ位相雑音を測定したので、これを報告する。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-01-17
著者
-
伊藤 文彦
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
伊藤 文彦
日本ビクター(株)技術開発本部
-
井上 雅晶
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
伊藤 文彦
日本電信電話(株)
-
岡本 達也
NTTアクセスサービスシステム研究所
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