3pM2-1 BaF2による高分解能陽電子寿命法を用いた欠陥による陽電子捕獲速度の測定(格子欠陥)

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 1988-03-31

著者

• 白井 泰治

  京大工

• 山口 正治

  京大工

• 渡部 浩三

  京大工

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