26pXP-1 その場電子顕微鏡法によるC_<60>/C_<70>ナノウィスカーの曲げ変形観察(26pXP フラーレン,領域7(分子性固体・有機導体))

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概要

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• 2013-03-26

著者

• 宮澤 薫一

  物材機構

• 木塚 徳志

  筑波大院数理

• 松浦 大輔

  筑波大院数理

• 下村 周一

  物材機構

• 平田 千佳

  物材機構

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