LSI構造解析によるトラブル未然防止に関する研究 : 発電プラント用電子部品の信頼性向上に向けた取り組み(電子・電気機器の信頼性,故障解析,劣化診断,信頼性一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
産業用製品に適用する電子部品は高信頼性が求められる.しかしながら,電子部品の高機能・高性能化,多様化にともない,従来の信頼性試験が困難になり評価に時間がかかっていた.部品調達のグローバル化で海外品が増加し,開発期間も短縮していることから短期間で評価する必要がある.本報告では,電子部品の信頼性向上に向けた取り組みについて,LSIの構造解析による診断事例を報告する.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-06-08
著者
関連論文
- アルミ電解コンデンサの短期試験方法に関する考察(システムの信頼性,信頼性一般)
- 銀の接触抵抗特性に及ぼす硫化水素による腐食の影響
- 大気環境を考慮した電気・電子機器の劣化診断技術
- 熱物性顕微鏡による多層膜めっきの熱浸透率の測定(システムの信頼性・信頼性一般)
- LSI構造解析によるトラブル未然防止に関する研究 : 発電プラント用電子部品の信頼性向上に向けた取り組み(電子・電気機器の信頼性,故障解析,劣化診断,信頼性一般)
- ジャンクション温度変化によるLEDの劣化診断 (信頼性)
- ジャンクション温度変化によるLEDの劣化診断(電子・電気機器の信頼性,故障解析,劣化診断,信頼性一般)