超高解像度HDR画像計測によるシルクライク織物の散乱特性抽出

概要

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本研究では,反射光および散乱光を安定に観測できる画像計測システムを構築し,得られた高解像度多方向照明HDR画像を解析することにより,対象織物の表面および表面下の3次元微視的幾何構造と,反射および散乱の相関関係を解析する.まず,投影パターンの制御が可能で,1画素サイズ5μmの高解像度多視点HDR画像計測システムを構築する.次に構築したシステムを用いて,水平台に置かれている織物に対し,垂直方向から2°刻みでプロジェクタを移動させ格子パターンを投影し,反射と散乱をHDR画像計測する.格子サイズを3×3,5×5,7×7と拡大させ,反射および散乱光の方向や強度の変化を解析する.入射点からの距離に対する単一散乱の減少を分析し単一散乱の境界を推定し,反射・単一散乱・多重散乱を分離する.さらに,反射分布,単一散乱分布および多重散乱分布間の指向性や強度の相関を評価し,織物の表面および表面下の微視的幾何構造との関係を解析する.解析結果に基づいて,織物の散乱は反射と同様に指向性の強い直交二軸の異方性を持つことを示す.
2013-03-07