光ファイバ側方入力技術を用いた試験光入射機構の設計検討(光波センシング,光波制御・検出,光計測,ニューロ,一般)
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概要
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光アクセス網においては、ケーブル端や光カプラ等のコネクタから試験光を送信している。保守運用をより簡易にするためには、光アクセス網に敷設された光ファイバ心線の任意の場所から、試験光の入出力が必要である。この実現のため、光ファイバ心線を曲げ、その曲げ領域から光信号を入出力する光ファイバ側方入出力技術が検討されてきた。しかし、本技術において光ファイバ心線曲げ部への試験光波長、入射角、損失についての検討がされていない。そこで、試験光の入射機構を検討したので報告する。
- 2012-02-24
著者
-
真鍋 哲也
Nttアクセス網研究所
-
本田 奈月
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
東 裕司
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
廣田 栄伸
日本電信電話(株) フォトニクス研究所
-
東 裕司
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
納戸 一貴
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
納戸 一貴
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
東 裕司
Ntt東日本ネットワーク事業推進本部サービス運営部技術協力センタ
-
廣田 栄伸
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
東 裕司
日本電信電話株式会社NTTアクセスシステムサービス研究所
-
真鍋 哲也
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
日本電信電話株式会社アクセスサービスシステム研究所
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