同軸共振器装荷FET発振器の発振器Qの解析式の導出
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概要
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発振器の位相雑音に関し、Leesonの式がよく知られている。これまでLeesonの式における発振器のQファクタQ_<osc>と回路定数との関係は解析されていなかった。近年、大平により発振器の回路網からLeesonの式におけるQ_<osc>を与える解析法が報告された。筆者らは同軸共振器装荷FET発振器のQ_<osc>の定式化を行い、共振器の損失を無視し得る近似条件下では、共振器のQeとQ_<osc>が比例関係にあることを明らかにした。本報告では同軸共振器の損失を考慮したときのより厳密なQ_<osc>の解析式を導出したので報告する。さらに帰還容量とQ_<osc>の関係を解析および回路シミュレーションにより求め、位相雑音の測定値との比較を行う。これにより位相雑音の低減に向けた課題を明らかにする。
- 2011-12-08
著者
-
津留 正臣
三菱電機株式会社
-
大平 孝
豊橋技術科学大学
-
牧野 滋
金沢工業大学
-
伊東 健治
三菱電機株式会社先端技術総合研究所
-
伊東 健治
三菱電機
-
池松 寛
三菱電機株式会社
-
廣田 哲夫
金沢工業大学
-
池松 寛
三菱電機株式会社通信機製作所
-
牧野 滋
三菱電機
-
野口 啓介
金沢工業大学
-
別段 信一
金沢工業大学
-
大平 孝
国立大学法人 豊橋技術科学大学
-
伊東 健治
金沢工業大学
-
別段 信一
三菱電機株式会社
-
牧野 滋
金沢工業大学工学部
-
森正 朝也
金沢工業大学
-
別段 信一
三菱電機株式会社情報通信機製作所
-
廣田 哲夫
豊橋技術科学大学
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