25aTH-6 強磁性金属薄膜表面上の鉄フタロシアニン薄膜のXMCD測定(25aTH 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 2011-03-03

著者

• 横山 利彦

  分子研

• 高木 康多

  理研 SPring-8

• 中川 剛志

  分子科学研究所

• 横山 利彦

  分子科学研究所

• 高木 康多

  理化学研究所播磨研究所

• 中川 剛志

  分子研

• 高木 康多

  分子研

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