3次元周波数領域べクトル有限要素法を用いたシリコン細線導波路の曲げ特性解析(マイクロ波フォトニクス技術,一般)
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概要
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シリコン細線導波路は,コアとクラッド間の高い屈折率差により強い光閉じ込めを実現できるため,従来の石英系光導波路を用いた光回路を小型化できると期待されている.光回路を構成するには曲がり導波路が不可欠であり,また,その構造は曲がり導波路と直線導波路がいくつも接続されるといった複雑なものが多い.このため,その回路特性を正しく評価するには曲がり部だけでなく,直線導波路と曲がり導波路部分におけるモード不整合を考慮した曲げ特性解析が必須となる.そこで本報告では,3次元べクトル有限要素法を用いた解析ソルバーを開発し,接続損失も含めたシリコン細線導波路の曲げ特性解析に応用することについて検討を行っている.
- 2010-07-22
著者
-
川口 雄揮
北海道大学大学院情報科学研究科
-
齊藤 晋聖
北海道大学大学院情報科学研究科
-
小柴 正則
北海道大学大学院情報科学研究科
-
皆瀬 怜
北海道大学大学院情報科学研究科
-
小柴 正則
北海道大学
-
齊藤 晋聖
北海道大学 大学院情報科学研究科
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