粒子線励起X線放出(PIXE)とその応用
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概要
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高エネルギー荷電粒子が原子に衝突すると,原子の内殻電子が電離し,特性X線が発生する.この現象は,粒子線励起X線放出(Particle Induced X-ray Emission:PIXE)と呼ばれている.K殻電離の場合,電離過程は理論的に良く説明でき,その断面積はあるスケーリング則に従う.PIXEにおいて発生する特性X線の発生断面積は非常に大きいので,微量元素分析に応用でき,ナトリウムからウランまでの元素を同時にppbの感度で検出できる.ビームを走査すると,試料に含まれる元素の濃度分布を画像として得ることもできる.また,ビーム径がミクロンサイズのマイクロビームを用いると,細胞の内部の元素の分布を調べることができる.さらに,マイクロビームを金属ターゲットに照射すると,その特性X線の点線源が作成され,準単色X線のミクロンCTが可能となり,小動物の体内を生きたままで観察できる.
- 2011-01-05
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