電荷輸送材料の光励起および少数キャリアによる劣化の解析(有機・薄膜デバイス,一般)
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概要
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有機ELの劣化プロセスにはさまざまな可能性が考えられているが、有機材料そのものの劣化過程として、光励起状態および少数キャリア荷電状態からの劣化が重要であると考えられている。本研究では、ホール輸送材料におけるこれらの劣化プロセスを、ホールオンリーデバイスのJ-V曲線および移動度の変化から追跡することにより、分子レベルの劣化メカニズムについて考察を行った。
- 2010-04-15
著者
-
中山 健一
山形大学大学院理工学研究科
-
城戸 淳二
山形大学大学院理工学研究科
-
城戸 淳二
山形大学大学院理工学研究科有機デバイス工学専攻
-
夫 勇進
山形大学大学院理工学研究科
-
野稲 啓二
山形大学大学院理工学研究科 有機デバイス工学専攻
-
笹部 久宏
山形大学大学院理工学研究科 有機デバイス工学専攻
-
中山 健一
山形大学大学院理工学研究科 有機デバイス工学専攻
-
夫 勇進
山形大学大学院理工学研究科 有機デバイス工学専攻
-
城戸 淳二
山形大学大学院理工学研究科 有機デバイス工学専攻
-
城戸 淳二
山形大学大学院 理工学研究科 有機デバイス工学専攻
-
夫 勇進
山形大学大学院 理工学研究科 有機デバイス工学専攻
-
城戸 淳二
山形大学大学院
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