二重積分器を用いたD-A変換器用BIST回路(<特集>高性能電子機器を支える次世代高密度実装技術と実装材料技術論文)
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概要
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大規模LSIに内蔵されるA-D,D-A変換器へのBISTはS/N特性等のアナログ特性の検査コストの低減に重要である.D-A変換器の検査のために,二次積分に係数を有する負帰還をかける余弦波発生回路(DIO)を提案し,更にアナログ特性の評価に有効であることをシミュレーションにより明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-11-01
著者
-
松谷 康之
青山学院大学大学院理工学研究科
-
小林 俊雄
青山学院大学理工学部
-
松本 振弥
青山学院大学理工学部
-
松谷 康之
青山学院大学理工学部
-
松谷 康之
青山学院大 大学院理工学研究科
-
松本 振弥
青山学院大学大学院理工学研究科電気電子工学専攻
-
松谷 康之
青山学院大
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