2枚の半無限平行導体板による電磁波散乱問題の厳密解との比較による簡単化レイ・トレース法の精度について
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概要
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2枚の半無限平行導体板による平面電磁波散乱問題に対する厳密なWiener-Hopf(WH)解を用いて,導体エッジ間の多重回折を無視した簡単化レイ・トレース法(RTM: Ray Tracing Method)の精度を調べる.
- 2006-11-01
著者
-
中川 真弓
福岡工業大学大学院工学研究科知能情報システム工学専攻
-
藤井 泰憲
福岡工業大学大学院工学研究科知能情報システム工学専攻
-
内田 一徳
福岡工業大学大学院工学研究科知能情報システム工学専攻
-
内田 一徳
福岡工業大学大学院工学研究科情報通信工学専攻
-
藤井 泰憲
福岡工業大学大学院工学研究科情報通信工学専攻
-
中川 真弓
福岡工業大学大学院工学研究科情報通信工学専攻
-
内田 一徳
福岡工業大学大学院工学研究科
-
内田 一徳
福岡工業大学大学院 工学研究科
-
内田 一徳
福岡工業大学
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