有機EL素子における透明電極/有機層界面のXPS分析(有機材料・一般)
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概要
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光の照射による有機EL(Electroluminescence)素子の劣化,および透明電極として用いられるITO(Indium Tin Oxide)電極の成膜温度による有機EL素子の特性の違いを明らかにすることを目的として,ITO上に成膜した薄い有機層のXPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)による分析を行った.光照射を行った試料では,有機層の酸化の進行とITO電極から有機層への正孔注入障壁の増加を示す結果が得られ,劣化の一因がこの界面にあることが示唆された.また,室温成膜したITO上の有機層は,高温(573K)で成膜したITO上の有機層と比較して著しく酸化しており,素子特性の違いを説明しうる結果を得た.
- 2009-01-14
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