伝送線路測定による材料定数の抽出と電磁界解析への適用(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
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概要
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GHz帯の高周波領域では誘電材料等の材料定数が電磁界解析の精度を左右する。本報告ではプリント配線板状のマイクロストリップ配線の伝送特性から基板表面上のソルダーレジストの比誘電率を求める近似式を提案し、抽出した比誘電率を電磁界解析に適用することで解析精度が向上することを示す。またシングルエンド配線測定から抽出した比誘電率を、電解分布の異なる差動配線の電磁界解析モデルに適用した場合も解析結果が実測と一致することを示した。この結果から18GHz程度の周波数領域では、材料定数の異方性が伝送特性に与える影響は小さいと考えられる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-01-10
著者
-
鳥屋尾 博
日本電気株式会社
-
若林 良昌
日本電気株式会社生産技術研究所
-
鳥屋 尾博
日本電気株式会社システム実装研究所
-
若林 良昌
日本電気株式会社システム実装研究所
-
Toyao Hiroshi
System Jisso Research Laboratories Nec Corporation
-
鳥屋尾 博
日本電気株式会社グリーンプラットフォーム研究所
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