Rear Processを考慮したDWDDディスクモデルにおける光散乱及び検出信号特性の3次元FDTD法解析(垂直磁気記録及び一般)
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概要
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近年,コンピュータの高性能化とネットワークの急速な進展に伴い,取り扱うデータ量が飛躍的に増大し,大容量で媒体交換が可能な光ディスクの更なる成長が期待されている.その中でもアクセス速度及び転送速度が高速かつ信頼性が高い光磁気(MO)ディスクの高密度化を図る様々な技術が考案されている.本稿では光磁気ディスクにおいて最も大容量化が可能である磁壁移動検出(Domain Wall Displacement Detection; DWDD)方式に基づくディスクモデルにおいて,Rear Processを考慮した光散乱及び検出信号特性を3次元FDTD法を用いて解析する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-07-05
著者
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